6
月
10
日下午，福禄克测试仪器
(
上海
)
有限公司工程师张灿应邀来到我院电子技术系做“红外热像技术
”
报告
。
会议在归耕楼省光伏中心会议室举行，电子技术系相关专业带头人、骨干教师、创新班学员等参加了本次学习研讨活动
。
张灿首先简要介绍红外热像的原理，然后结合实际案例，深入浅出的介绍了红外热像技术在微电子材料与器件的受热分析、光伏电池热斑效应分析，以及在功率电子和
PCB
组装等方面的热失效分析等的应用。
福禄克
(FLUKE)
公司是世界电子测试工具的领导者，为各个工业领域提供优质的测量和检测故障产品。其热像仪技术可应用于各类电子精密器件的数据测量。
会议期间，大家围绕红外热像技术在电子精密器件热效应的定性和定量分析方面的应用展开热烈讨论。新技术的应用将会为开展科研提供有力的手段。
会后，电子技术系主任陈伟元教授、陆春妹、王鹏等与张灿工程师就与福禄克测试仪器
(
上海
)
有限公司进一步开展校企合作进行了深入的探讨，并就专业实验室建设等方面交换了意见。
